| Аннотация | Используя данные патентной статистики, строится модель зависимости уровня патентной активности стран от различных показателей, характеризующих как развитие науки и техники, так и состояние экономики стран. На основании модели бинарного выбора выполняется построение модели, позволяющей оценивать склонность предприятий различных стран к проведению самостоятельных исследований и разработок. Для прогнозирования показателей патентной активности используется модель двойного экспоненциального сглаживания методом Хольта. |
|---|